X熒光射線測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 250是一款高性能、緊湊且通用的適用的x射線測量儀器。它非常適合無損檢測涂層厚度測量和材料分析。
XAN 250特別適合于測量和分析薄涂層，即使具有非常復雜的組成或小的濃度。

應用領域：

•測量電子器件中的功能涂層，從幾納米開始和半導體行業(yè)

•消費者保護的痕量分析，例如玩具中的鉛含量

•分析珠寶和手表中對精度要求*高的合金工業(yè)和金屬精煉廠

•大學和行業(yè)研究

介紹：

XAN 250設計為用戶友好的臺式儀器。樣本定位快速簡便。X射線源和半導體探測器組件位于儀器的下室中，以便測量方向從樣品下方開始，樣品由透明支撐窗帶有變焦和十字準線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品放置并且允許精確的測量點調(diào)整。
測量的整個操作和評估以及清晰的演示使用功能強大且用戶友好的WinFTM®軟件。